長野県電子回路技術研究会　技術講演会

■受講のおすすめ
　高速化する信号伝送路のシグナル・インテグリティ評価として、TDR(Time Domain Reflectometry)測定の重要性が叫ばれるようになって参りました。プリント基板上の配線パターンにおいて、位置とインピーダンスの2次元情報をもたらすTDR測定は、高速回路基板の開発において極めて有効な測定方法と位置づけられています。昨年度、情報技術試験場にこのTDRインピーダンス測定装置を設置し、研究会会員企業様をはじめ、広く県内企業の皆様に御利用を呼びかけているところです。
　今回は、日本テクトロニクス株式会社の神林一郎様より、TDRの基礎編を中心にSパラメータの測定までをご紹介いただきます。USB2.0をはじめとする最近の高速デジタル回路用の基板設計は、インピーダンスコントロール抜きには語れないところに来ています。ぜひこの機会に、TDRを通して特性インピーダンスのご理解を深めていただければ幸いです。
■講演項目
−基板設計におけるTDR測定の有効性について
−反射するということの原理
−インピーダンス測定原理の紹介
−高周波の知識を得る（リターンロス、Sパラメータ、VSWR、クロストークの説明）
−差動伝送路の場合のTDR測定
−TDR測定のポイント（分解能、周波数特性、測定精度向上）
−Spiceネットリストについて
（予定の為、当日内容が変更になる事があります。）
■受講対象者
−高速伝送路基板、ケーブル、コネクタ、デバイスの設計、評価を必要とする方
−高速デバイス/インタフェース/ケーブルのシグナル・インテグリティ解析を必要とされる方
−TDR測定にご興味がある方